壓敏電阻采購,就選源林電子,型號豐富
壓敏電阻連續(xù)工作電壓壽命,即壓敏電阻在規(guī)定環(huán)境和系統(tǒng)電壓條件下應(yīng)能可靠地工作規(guī)定的時間(h)。由于壓敏電阻總是承受著穩(wěn)態(tài)工作電壓應(yīng)力的作用,壓敏電阻的壽命是與漏電流密切相關(guān)的。在不發(fā)生機(jī)械或其他電氣性能失效的情況下,壓敏電阻的壽命主要由漏電流IR(密度JR)及其溫度、電壓和時間的上升情況所決定。隨著漏電流IR(密度JR)升高,發(fā)熱量增大,若這個能量不能散失,元件的溫度會很快上升,這種元件在維持一段初始穩(wěn)定狀態(tài)后,終將達(dá)到熱失控(擊穿)的溫度而結(jié)束其使用壽命。
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電流溫度系數(shù)與絕緣電阻:
電流溫度系數(shù)
指在壓敏電阻器的兩端電壓保持恒定時,溫度改變1℃時,流過壓敏電阻器電流的相對變化。
絕緣電阻指壓敏電阻器的引出線(引腳)與電阻體絕緣表面之間的電阻值。
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氧化鋅壓敏電阻的缺陷:
ZnO壓敏電阻器中的缺陷有正一價和正二價的Zni和Vo,負(fù)一價和負(fù)二價的
VZn ,正一價的DZn。VZn主要在晶界處,VZn為受主態(tài),使晶粒表面形成一電子耗盡層而產(chǎn)生勢壘,約0.7eV。Zni容易遷移為亞穩(wěn)態(tài),是老化產(chǎn)生的根源所在。DZn可降低晶粒體的電阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高溫時原子運(yùn)動加劇,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷卻過程中容易從空氣中吸收氧而消失。
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